余浩群 2006年進(jìn)入億博檢測(cè)技術(shù)有限公司,擔(dān)任高級(jí)技術(shù)顧問。
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低壓指令(LVD)一致性測(cè)試失敗的六個(gè)原因
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每年,許多產(chǎn)品在低電壓指令(LVD)測(cè)試期間都會(huì)失效,因?yàn)樗鼈兗磳l(fā)布或甚至已經(jīng)在歐盟市場(chǎng)上銷售。這是因?yàn)橹圃焐陶J(rèn)為LVD安全測(cè)試與EMC測(cè)試相比要簡單得多。他們不應(yīng)忽視它或輕視它,因?yàn)樗婕爱a(chǎn)品安全和用戶健康。如果產(chǎn)品的電氣安全性有問題,那么后果可能是火災(zāi)甚至是爆炸。
大多數(shù)情況下,當(dāng)產(chǎn)品未通過其低電壓指令(LVD)測(cè)試時(shí),因?yàn)椴淮嬖谀承┬薷幕蛉魏纹渌臋n資格,并且需要將產(chǎn)品視為符合CE標(biāo)準(zhǔn)。然而,情況并非總是如此,而不是如此復(fù)雜,問題可能更容易解決。還有其他六個(gè)失敗
原因,如果制造商牢記這一點(diǎn),可以幫助他們確保隨后的LVD產(chǎn)品合規(guī)性測(cè)試順利進(jìn)行并且沒有任何問題:
1.單故障測(cè)試:
它涉及電路的不充分或不正確的保護(hù),在單一故障測(cè)試期間可能導(dǎo)致過熱,火災(zāi)或絕緣擊穿
2.保護(hù)電池(特別是鋰電池):
在這種情況下,某些保護(hù)組件(如鋰電池)要么缺少電池容量,要么不足以產(chǎn)生電池容量,并且可能導(dǎo)致過充電和過放電。
3.溫度升高:
測(cè)試產(chǎn)品時(shí),其隔離變壓器,PCB或其他任何組件的運(yùn)行溫度高于測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或特定組件標(biāo)準(zhǔn)的允許限值。其后果可能是在一段時(shí)間內(nèi)減損絕緣性能,進(jìn)而可能導(dǎo)致電擊危險(xiǎn)。
4.爬電距離和間隙:
經(jīng)常由PCB設(shè)計(jì)人員監(jiān)督,如果電路通過繼電器/光耦合器控制電氣設(shè)備初級(jí)側(cè)的某些東西,即電機(jī)或加熱器,則爬電距離和間隙變得非常關(guān)鍵。
5.組件認(rèn)可:
它涉及缺乏特定信息,在大多數(shù)情況下是安全標(biāo)準(zhǔn),如EN或IEC標(biāo)準(zhǔn)。有時(shí),失敗的原因也可能是因?yàn)樾畔⒁堰^期或測(cè)試規(guī)范被撤銷。
6.標(biāo)記和說明:
與電氣額定值相關(guān)的標(biāo)記或放置在設(shè)備上的任何其他警告標(biāo)記不正確或不足。此外,如果關(guān)于如何使用,安裝和維修電氣設(shè)備的信息或技術(shù)說明不充分,則可能在LVD測(cè)試期間發(fā)生故障。
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