余浩群 2006年進(jìn)入億博檢測(cè)技術(shù)有限公司,擔(dān)任高級(jí)技術(shù)顧問(wèn)。
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高溫測(cè)試
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電子產(chǎn)品高低溫測(cè)試-可靠性測(cè)機(jī)構(gòu)
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1、低溫試驗(yàn):
低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫GB/T 2423.1-2008,IEC 60068-2-1:2007。只做:溫度≥-70℃。
2、高溫試驗(yàn):
高溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫GB/T 2423.2-2008,IEC 60068-2-2:2007。只做:溫度≤300℃。
3、恒定濕熱試驗(yàn):
濕熱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)GB/T 2423.50-2012,IEC 60068-2-67:1995。只做:溫度(10~95)℃,濕度:(20~98)%RH
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)GB/T 2423.3-2006,IEC 60068-2-78:2001只做:溫度(10~95)℃,濕度:(20~98)%RH。
4、交變濕熱試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))GB/T2423.4-2008,IEC 60068-2-30:2005。只做:溫度(10~95)℃,濕度:(20~98)%RH。
5、振動(dòng)試驗(yàn):
振動(dòng)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fi:振動(dòng)混合模式GB/T 2423.58-2008,IEC 60068-2-80:2005。只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則GB/T 2423.56-2006,IEC 60068-2-64:1993。只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)GB/T 2423.10-2008,IEC 60068-2-6:1995。只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。
6、溫度變化試驗(yàn):
環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009。
7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn):
環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)GB/T 2423.34-2012,IEC 60068-2-38:2009。
8、跌落試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落GB/T 2423.8-1995,IEC 60068-2-32:1990。
9、機(jī)械沖擊試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊GB/T 2423.5-1995,IEC 60068-2-27:1987。
10、碰撞試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞GB/T 2423.6-1995,IEC 60068-2-29:1987
11、傾跌與翻倒:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)GB/T 2423.7-1995,IEC 60068-2-31:1982。
12、砂塵試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994只做:方法La2:恒定氣壓。
13、鹽霧試驗(yàn):
環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)GB/T 2423.18-2012,IEC 60068-2-52:1996;
人造氣氛腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)GB/T 10125-2012,ISO 9227:2006;
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧GB/T 2423.17-2008,IEC 60068-2-11:1981。
14、溫度沖擊試驗(yàn):
環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009。
15、IP防護(hù)等級(jí)(外殼防護(hù)試驗(yàn)):
外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼):GB 4208-2008,IEC 60529:2001;
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則:GB/T 2423.38-2008,IEC 60068-2-18:2000。
16、低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)GB/T 2423.35-2005,IEC 60068-2-50:1983。
17、高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)GB/T 2423.36-2005,IEC 60068-2-51:1983。
18、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合GB/T 2423.59-2008。
19、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn):
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合GB/T 2423.102-2008。
20、可靠性試驗(yàn):
設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案:GB/T 5080.7-1986,IEC 60605-7:1978;
設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn):GB/T 5080.6-1996,IEC 60605-6:1989;
設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案:GB/T 5080.5-1985,IEC 60605-5:1982;
設(shè)備可靠性試驗(yàn)可靠性測(cè)定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法(指數(shù)分布):GB/T 5080.4-1985,IEC 60605-4:1978。
可靠性試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)周期設(shè)計(jì)GB/T 5080.2-2012,IEC 60605-2:1994;
可靠性試驗(yàn)第1部分:試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理GB/T 5080.1-2012,IEC 60300-3-5:2001。
億博檢測(cè)是深圳第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),自有大型可靠性檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室,可提供高溫測(cè)試、低溫測(cè)試、高低溫沖擊、快速溫變測(cè)試、交變濕熱測(cè)試、恒溫恒濕測(cè)試、溫濕度循環(huán)測(cè)試、三綜合試驗(yàn)、振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、跌落測(cè)試、鹽霧測(cè)試、光照老化、IP防塵防水等可靠性測(cè)試服務(wù),咨詢熱線:13543272595
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